測量質量是實驗室工作的重要組成部分。專門的地址天平使研究人員和技術人員能夠準確無誤地完成這項工作。在決定在實驗室中使用哪種類型的天平時，精度問題是關鍵。更精確的天平產生的測量值在小數(shù)點右側有更多數(shù)字（也稱為有效數(shù)字）。地址天平的精度取決于其分辨率，這是天平可以檢測和顯示的施加重量的最小增量。分辨率通常以克為單位，有時稱為可讀性或除法。
梅特勒-托利多發(fā)布了清潔實驗室天平的標準操作程序，包括精密天平和分析天平。本文檔包括以下一般“注意事項”以及其他有用的建議：
首先，清除天平上的粉末和灰塵。使用紙巾來完成此操作，而不是試圖吹掉儀器上的灰塵，否則可能會無意中將灰塵或其他材料移入天平。
清除任何粉末和灰塵后，使用潮濕的無絨布和溫和的溶劑（如異丙醇或 70% 乙醇）去除粘性物質。不要使用研磨劑，也不要將液體噴灑或傾倒在天平上。
擦拭或刷洗天平時，請擦拭平盤所在的開口和任何空氣管道，這些空氣管道是防風罩前后的間隙。
如果無需工具即可拆卸部件（如天平操作說明中所述），請將其取出進行清潔。
盡可能保持外圍設備的連接，并在其工作位置清潔天平。
清潔后，重新組裝天平并將其打開（有足夠的預熱時間）以確保其正常工作。
調平和校準天平，使用測試砝碼檢查準確性，測試打印機和任何其他連接的附件。
這些一般提示是一個很好的起點，但請務必查看特定儀器的操作說明，這可能會為使用哪種清潔產品等問題提供更詳細的指導。例如，雖然建議使用溫和的溶劑進行清潔，但其他制造商建議不要使用溶劑，而是建議僅使用溫和的肥皂水。
此外，制造商的操作說明將描述如何最好地拆卸可拆卸進行清潔的任何部件。
實驗室天平可根據(jù)精度和分辨率分為幾個基本類別。按精度/分辨率遞增的順序，有精密天平、分析天平、半微量天平和微量天平。
精密天平，也稱為頂部裝載天平或普通天平，提供小數(shù)點右側零到三位數(shù)字，具體取決于型號。分析天平在小數(shù)點右側提供四位或更多位。根據(jù)“技術人員分析化學”，在這種精度水平下，有必要封閉秤盤以幫助消除氣流對測量的影響。半微量天平在小數(shù)點右側提供五位數(shù)字。微量天平提供更高的精度。
根據(jù)“技術人員分析化學”，保持實驗室天平清潔非常重要，尤其是更精確的分析天平，因為溢出物會與這些敏感儀器的表面發(fā)生反應，從而影響其測量的準確性。溢出的化學品或碎屑也可能污染正在稱重的樣品。
清潔分析天平包括移除保護秤盤免受空氣流動影響的防風罩。根據(jù)梅特勒-托利多的標準操作程序，您應該首先清除設備周圍的所有污垢，然后解鎖并取下防風罩板，然后是內部防風罩和天平上的任何其他可拆卸部件，例如秤盤、秤盤蓋、盤托、風環(huán)和滴水盤。這些可拆卸部件可以用窗戶清潔劑或其他含有乙醇的溫和清潔劑清潔，也可以在洗碗機中清潔。
